一、產品簡介：

周轉式高溫RDT測試老化柜可用于SSD產品進行RDT高溫老化測試，老化柜內風道為不銹鋼結構，箱內空氣封閉自循環。工作室內溫度由溫控儀自動控制，并有自動恒溫及時間控制裝置，并附設有超溫自動停電及報警電路，控制可靠，使用安全。

二、技術參數：

三、測試指標：

?支持SATAI/II/III的測試;

?支持SATA的測試片數定制化例如100片、150片、200片、400片等;

?支持研發微小型定制化，例如2片、6片等等;

?支持(室溫~+150度)的測試;

?支持自動化溫控測試;

?支持全部采用軟體進行智能化控制測試;

?支持測試測試軟體的定制化;

?支持箱內風速與溫度均衡;

?支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制化研發;

四、產品特點：

可滿足原生NVMe協議支持，兼容U.2、M.2、SATA老化的要求。

測試容量大，快拆層板、插拔方便，產品水平插拔可以減少接口因產品重力造成的不良影響，提高板卡使用壽命

配備周轉架可一次性拉出/推進測試產品，節約換線時間，極大的提升生產效率和設備稼動率。

采用12V轉5V電流供電方式，充分保證每個板卡供電的穩定性，不懼大批量大容量產品測試；

產品區與供電電源隔離；

多個高精度溫度采集裝置，每層有獨立出風口及進風口保證溫度更均勻；

產品可根據要求設置上電測試溫度；