由于貼片式LED使用環(huán)境和條件各異，其燈珠在封裝完成后需進(jìn)行可靠性實(shí)驗(yàn)以驗(yàn)證性能。壽命測(cè)試是評(píng)估LED燈珠性能的重要環(huán)節(jié)，而高溫老化實(shí)驗(yàn)是其中的重要環(huán)節(jié)。高溫老化需要使用貼片式led高溫老化箱，下面我們來(lái)看看該產(chǎn)品的技術(shù)要求。

產(chǎn)品名稱(chēng)：環(huán)儀儀器 貼片式led高溫老化箱

一、產(chǎn)品內(nèi)容：

1.老化設(shè)備：PCB基座表面開(kāi)設(shè)有多個(gè)LED貼片焊盤(pán)，多個(gè)焊盤(pán)串聯(lián)后并聯(lián)有一個(gè)2PIN母端子，該母端子與老化排線配合連接；

2.測(cè)試裝置：用于連接鋁基座與測(cè)試裝置，壓接裝置的頸部下方設(shè)有多個(gè)壓接裝置，并在出線孔位處安裝多個(gè)多PIN公端子線，與多PIN母端子連接。

3.老化排線：為測(cè)試裝置提供電力支持，并確保每個(gè)LED的老化測(cè)試過(guò)程順利進(jìn)行。

二、測(cè)試過(guò)程：

老化到相應(yīng)時(shí)間后，將老化設(shè)備放置在測(cè)試卡座上，通過(guò)壓接裝置固定圓形鋁基座。測(cè)試卡座上的多PIN公端子線與老化設(shè)備上的多PIN母端子連接，實(shí)現(xiàn)電氣連通。此時(shí)，可通過(guò)開(kāi)關(guān)控制器上的開(kāi)關(guān)逐個(gè)對(duì)LED燈珠進(jìn)行測(cè)試。開(kāi)關(guān)控制器與電源連接，為測(cè)試提供電力，操作人員可根據(jù)需要打開(kāi)或關(guān)閉相應(yīng)開(kāi)關(guān)，對(duì)每個(gè)LED燈珠的光通量、色溫、電壓等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)評(píng)估LED燈珠性能的好壞。

三、技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

能夠同時(shí)對(duì)多個(gè)LED燈珠進(jìn)行老化實(shí)驗(yàn)，并且通過(guò)測(cè)試裝置可實(shí)現(xiàn)對(duì)每個(gè)燈珠的單獨(dú)測(cè)試，更客觀地模擬了燈珠模塊在實(shí)際使用中的老化情況，避免了單個(gè)測(cè)試帶來(lái)的局限性，使測(cè)試結(jié)果更能準(zhǔn)確反映模塊化燈珠高溫老化的真實(shí)效果，為評(píng)估LED燈珠性能提供了更可靠的依據(jù)。

以上就是貼片式led高溫老化箱的技術(shù)方案，如有選型疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。