為了預防LED的品質問題，就要做好焊接封裝元器件失效之品質控制，對LED產品進行高溫老化測試，保證電子產品的可靠性。為了研究LED的高溫應力失效分析，我們分析對led進行85℃和120℃的應力壽命試驗，主要試驗內容如下。

試驗設備：環儀儀器 LED燈珠高溫老化箱

評價方法：

試驗過程：

1. 85℃壽命試驗

由公式( 1) 可知 85 ℃ 下壽命分別為 4318 h、5593 h、7570 h、8630 h、7831 h、5063h，平均壽命為 6501 h; 取 Ea = 0． 5627 eV，根據公式( 2) 則可推出樣品在 25 ℃下壽命為: 254428 h。

85 ℃條件下光輸出功率隨時間衰減曲線：

2. 120℃壽命試驗

如下圖“20 ℃ 條件下光輸出功率隨時間衰減曲線”所示，當溫度處于 120 ℃ 時，兩款芯片均迅速失效，由于誤差較大，均無法正常推算，但就失效速度可知，1028A8 失效速度明顯低于 1028A6。

120 ℃ 條件下光輸出功率隨時間衰減曲線：

3. 電流應力加速壽命試驗

為了消除芯片個體差異所產生的實驗誤差，故采用分段式電流增加的實驗方法。如下圖，在不同時間段內分別增加電流，判斷不同電流對兩種芯片的影響差異。

根據公式( 3 ) 推算，在 2 倍電流情況下1028A6、1028A8 的平均壽命分別為 4110 h、5438 h。如下圖，

兩款芯片的失效時間比起溫度應力條件下的平均壽命 6501 h、7289 h 而言明顯更短，由此可見電流應力影響高于溫度應力。且采取新型電極結構的1028A8 產品抗電流應力壽命明顯優于傳統電極結構的 1028A6 產品。

以上就是LED燈珠高溫老化箱對led的溫度應力加速壽命試驗，如有試驗疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。