電子器件恒溫恒濕試驗(yàn)箱由東莞環(huán)儀儀器生產(chǎn)，規(guī)格大小可以根據(jù)電子器件定制，溫度范圍有從-70~150℃，中間有多個(gè)段可以選擇，如最小范圍可選擇0~150℃，電子器件恒溫恒濕試驗(yàn)箱的濕度范圍標(biāo)配為20%~98%，如有低濕要求也可為電子器件量身定制。

電子元器件用的恒溫恒濕試驗(yàn)箱，是專業(yè)性的高溫高濕測(cè)試設(shè)備，模擬高溫高濕，高溫低濕，耐寒，耐干等系列復(fù)雜氣候，對(duì)電子元器件產(chǎn)品，進(jìn)行各項(xiàng)模擬環(huán)境試驗(yàn)，以檢查產(chǎn)品的性能，通過(guò)試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析，來(lái)完善產(chǎn)品質(zhì)量。

電子元器件用恒溫恒濕試驗(yàn)箱性能：
溫度范圍：0～+150℃、-20～+150℃、-40～+150℃、-60～+150℃、-70～+150℃
濕度范圍：20%～98%RH
溫度波動(dòng)度：±0.5℃
溫度偏差：≤ ±2.0℃
濕度偏差：±2.5%RH
升溫時(shí)間：-20→+150℃ ≤ 35分鐘（約3℃/min）
降溫時(shí)間：+20→-20℃≤ 45分鐘（約1℃/1.2min）

隨著中國(guó)工業(yè)產(chǎn)品研制的需要，近幾年來(lái)，中國(guó)從國(guó)外引進(jìn)了大批試驗(yàn)系統(tǒng)，為中國(guó)工業(yè)產(chǎn)品的研制和定型發(fā)揮了重要作用，但由于其本身的復(fù)雜性，使得試驗(yàn)箱在運(yùn)行中出現(xiàn)了許多問(wèn)題，而且出現(xiàn)了問(wèn)題不能及時(shí)解決，大大延長(zhǎng)了試驗(yàn)周期，影響了產(chǎn)品的研制工作。而產(chǎn)生這些現(xiàn)象的原因是對(duì)綜合試驗(yàn)的工作原理不了解。為此，我們對(duì)電子器件恒溫恒濕試驗(yàn)箱進(jìn)行一系列的改造，做到更適合我們的日常使用。

經(jīng)過(guò)改進(jìn)的電子恒溫恒濕試驗(yàn)箱，具備以下特點(diǎn)：
1.在試驗(yàn)箱本體的下表面設(shè)凹槽，支撐板通過(guò)伸縮裝置安裝在凹槽內(nèi)，支撐板遠(yuǎn)離凹槽的一面設(shè)置滑輪;當(dāng)恒溫恒濕試驗(yàn)箱需要移動(dòng)時(shí)，通過(guò)伸縮裝置將支撐 板推出凹槽使支撐板上的滑輪與地面接觸，隨著伸縮裝置的進(jìn)一步伸長(zhǎng)將試驗(yàn)箱本體推離地面。

2.當(dāng)試驗(yàn)箱本體離開(kāi)地面后即可輕松移動(dòng)恒溫恒濕試驗(yàn)箱，避免了直接搬動(dòng)或直接推 動(dòng)對(duì)恒溫恒濕試驗(yàn)箱的損壞。

3.當(dāng)恒溫恒濕試驗(yàn)箱移動(dòng)到需要的位置時(shí)，通過(guò)伸縮裝置收縮先將試驗(yàn)箱本體慢慢放回地面，再將支撐板慢慢收回凹槽內(nèi)，使滑輪離開(kāi)地面，如此，使試 驗(yàn)箱本體直接放置在地面上，可以避免在試驗(yàn)的過(guò)程中試驗(yàn)箱本體移動(dòng)影響試驗(yàn)。

在未來(lái)，環(huán)儀儀器會(huì)根據(jù)產(chǎn)品的使用狀況，不斷對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行升級(jí)，為求讓用戶使用更好更安全的恒溫恒濕試驗(yàn)箱。