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固態硬盤的讀寫掉電測試一般都是在同一溫度（低溫或者高溫）下進行的，主要檢測產品貯存和使用的適用性。NVMe固態硬盤內部擔任儲存數據的重要組件是NAND閃存，影響
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SSD高低溫測試箱是一款針對SSD成品測試的高集成度測試平臺，可以在不同溫度環境下，直接測試SSD的壽命和其他多項性能參數，為NVMe固態硬盤的可靠性，數據安全
為了研究FLASH芯片的壞區增長與擦寫次數為怎樣的關系，目前尚未有實際實物參照數據。下面使用Flash器件高低溫擦寫性能試驗箱，通過FLASH芯片壽命試驗，在地
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Flash高低溫試驗箱可用于研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機理和溫變規律，評估其空間應用的可行性，為Flash器件在空間型號任務的應用提供試驗依據
EMMC高低溫循環試驗箱可針對NAND Flash、UFS芯片進行高速、高低溫度范圍的全功能動態老化測試。針對集成NAND和Controller的模組芯片（例如
eMMC存儲芯片高低溫老化箱可對eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態硬盤
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